鉭電容的常用的電容器其精度等級和電阻器的表示方法相同。鉭電容的測驗，高壓陶瓷電容在模擬作業(yè)環(huán)境狀態(tài)下運作30~60天，測驗其衰減其各項參數(shù)的改變；耐壓實驗，包含額外作業(yè)電壓24小時作業(yè)測驗；也包含擊穿耐壓，即破壞性測驗，電容被擊穿前的那一個臨界電壓就是擊穿電壓。局放測驗，即部分放電測驗；壽數(shù)測驗，即在老化測驗的基礎(chǔ)上，再對電容進行高頻沖電流下快速充放電測驗，得到的充放電次數(shù)就是充放電壽數(shù)，留心，這個壽數(shù)的得出是在長時間的老化之后得出的。avx鉭電容的電參數(shù)隨電場頻率而改變的性質(zhì)。在高頻前提下作業(yè)的電容器，因為介電常數(shù)在高頻時比低頻時小，電容量也相應(yīng)減小。在電場的效果下，電容器在單位時間內(nèi)發(fā)燒而消耗的能量。這些損耗首要來自介質(zhì)損耗和金屬損耗。通常用損耗角正切值來表示。

鉭電容的運用越來越多的電子設(shè)備以便處理空間受限標題，并消除互連電纜形成的重量。運器具有較少線纜并且在任何功課前提下都可靠的通訊總線是一種明晰明晰的方案。圖給出了TRJ電容在總線驅(qū)動器中的運用狀況，由于可以極好地支撐發(fā)送放大器，TRJ電容能加快數(shù)字響應(yīng)速度。

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